日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

產(chǎn)品型號：

所屬分類：電阻檢測儀

產(chǎn)品時間：2024-09-11

簡要描述：日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E
適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

詳細說明：

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E

測量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C），校準后180天[校準后1年：1.5次]

測量范圍	標準值設定范圍	測量電流	測量精度^*
測量范圍	標準值設定范圍	測量電流	慢	快速地
100mΩ	5mΩ-100mΩ	100mA	± 0.02% ± 2a ± 2d	± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
1Ω	100.1mΩ～1Ω	100mA	±0.02%±a±1d以內(nèi)	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
10Ω	1.001Ω～10Ω	50mA	±0.02%±a±1d以內(nèi)	± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
100Ω	10.01Ω-100Ω	10mA	±0.02%±1d以內(nèi)	± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
1kΩ	100.1Ω～1kΩ	5mA
10kΩ	1.001kΩ～10kΩ	0.5mA
100kΩ	10.01kΩ-100kΩ	50μA
1兆歐	100.1kΩ～1MΩ	5μA		± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
10MΩ	1.001MΩ ~ 10MΩ	0.5μA	±0.03%±1d以內(nèi)	± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
100MΩ	10.01MΩ ~ 109MΩ	0.05μA	±0.1%±2d以內(nèi)	────

* D = 位數(shù)，n = 積分時間（毫秒），% 測量值：α = (100 / 標準設定值 mΩ) x 0.01%，絕對值測量值：α = 0 (add ± 1d)
* 屏蔽狀態(tài)下的*精度

測量時間	外部啟動		自由奔跑
	慢	快速地	慢	快速地
	大約 18 毫秒-400 毫秒。	大約 0.7 毫秒-400 毫秒。	約30次/秒～約2次/秒	約60次/秒～約2次/秒

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